Eisenmann, M., Reinke, A., Weru, V., Tizabi, M. D., Isensee, F., Adler, T. J., Ali, S., Andrearczyk, V., Aubreville, M., Baid, U., Bakas, S., Balu, N., Bano, S., Bernal, J., Bodenstedt, S., Casella, A., Cheplygina, V., Daum, M.,
de Bruijne, M., Depeursinge, A.,
& 105 othersDorent, R., Egger, J., Ellis, D. G., Engelhardt, S., Ganz, M., Ghatwary, N., Girard, G., Godau, P., Gupta, A., Hansen, L., Harada, K., Heinrich, M., Heller, N., Hering, A., Huaulmé, A., Jannin, P., Kavur, A. E., Kodym, O., Kozubek, M., Li, J., Li, H., Ma, J., Martín-Isla, C., Menze, B., Noble, A., Oreiller, V., Padoy, N., Pati, S., Payette, K., Rädsch, T., Rafael-Patiño, J., Bawa, V. S., Speidel, S., Sudre, C. H., van Wijnen, K., Wagner, M., Wei, D., Yamlahi, A., Yap, M. H., Yuan, C., Zenk, M., Zia, A., Zimmerer, D., Aydogan, D., Bhattarai, B., Bloch, L., Brüngel, R., Cho, J., Choi, C., Dou, Q., Ezhov, I., Friedrich, C. M., Fuller, C., Gaire, R. R., Galdran, A., García Faura, A., Grammatikopoulou, M., Hong, S., Jahanifar, M., Jang, I., Kadkhodamohammadi, A., Kang, I., Kofler, F., Kondo, S., Kuijf, H., Li, M., Luu, M., Martinčič, T., Morais, P., Naser, M. A., Oliveira, B., Owen, D., Pang, S., Park, J., Park, S., Płotka, S., Puybareau, E., Rajpoot, N., Ryu, K., Saeed, N., Shephard, A., Shi, P., Štepec, D., Subedi, R., Tochon, G., Torres, H. R., Urien, H., Vilaça, J. L., Wahid, K. A., Wang, H., Wang, J., Wang, L., Wang, X., Wiestler, B., Wodzinski, M., Xia, F., Xie, J., Xiong, Z., Yang, S., Yang, Y., Zhao, Z., Maier-Hein, K., Jäger, P. F., Kopp-Schneider, A. & Maier-Hein, L.,
2023,
Proceedings - 2023 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, CVPR 2023. IEEE Computer Society,
Vol. 2023-June.
p. 19955-19966 12 p. (Proceedings of the IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition; vol. 2023-June).
Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Academic › peer-review